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宇航志達芯片研發老化恒溫恒濕試驗箱

發布時間:2023-05-29

訪問次數:601

簡要描述:

宇航志達芯片研發老化恒溫恒濕試驗箱適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫療、航天等制品檢測質量之又名高低溫試驗機,試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干性能。適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫療、航天等制品檢測質量之

詳細介紹

宇航志達芯片研發老化恒溫恒濕試驗箱構造美觀,高效安全,用途廣泛高低溫試驗箱是航空,汽車,家電,科研等領域的測試設備,用于測試和確定電工,電子及其他產品及材料進行高溫,低溫,或恒定試驗的溫度環境變化后的參數及性能。


宇航志達芯片研發老化恒溫恒濕試驗箱

技術參數:

1、型號:Y-HU-150G

2、內箱尺寸:寬400×高500×深400mm

3、外形尺寸:寬650×高1550×深1010mm

4、溫度范圍:低溫-70℃~高溫150℃

5、濕度范圍:標準型(20%~98%RH)


6、溫度解析度:0.01℃

7、溫度波動度:≤±0.5℃

8、濕度波動度:≤±2.0%RH

9、溫度均勻度:±2.0℃

10、濕度偏差:75%R.H以下±5.0%RH、75%R.H以上+2.0/-3.0%RH

11、升溫速率:約1.0℃~3.0℃/min

12、降溫速率:約0.8℃~1.3℃/min

13、電源要求:AC220V/50HZ



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 滿足試驗標準 

⒈ GB11158 高溫試驗箱技術條件

⒉ GB10589-89 低溫試驗箱技術條件

⒊ GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件

⒋ GB/T10586-89 濕熱試驗箱技術條件

⒌ GB/T2423.1-2008 低溫試驗箱試驗方法

⒍ GB/T2423.2-2008 高溫試驗箱試驗方法

⒎ GB/T2423.3-2006 濕熱試驗箱試驗方法

⒏ GB/T2423.4-2008 交變濕熱試驗方法

⒐ GB/T2423.22-2002 溫度變化試驗方法

⒑ IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法

⒒ IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法

⒓ GJB150.3 高溫試驗

⒔ GJB150.4 低溫試驗

⒕ GJB150.9 濕熱試驗



 


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